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SD卡溫度循環(huán)試驗測試哪里可以做?

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2019-09-04 瀏覽數(shù)量:

廣東優(yōu)科檢測是已獲得CNASCMA資質(zhì)認可的第三方檢測機構(gòu),實驗室配備高低溫(濕熱)試驗箱,可提供SD卡溫度循環(huán)試驗測試服務(wù),并可出具溫度循環(huán)試驗測試報告。


SD卡溫度循環(huán)試驗測試


SD卡溫度循環(huán)測試

1. 測試設(shè)備

高低溫(濕熱)試驗箱

高低溫濕熱試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件,在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項性能指標的檢驗。


2. 實驗室環(huán)境條件

溫度:25℃±5℃

相對濕度:55%±15%(RH)


SD卡溫度循環(huán)試驗


3. 測試參考文件

此測試條件依據(jù)委托客戶要求的規(guī)范


4. 測試條件

待測物為非運作狀態(tài);

測試溫度范圍:-55℃至+125℃;

駐留時間:每個高低溫度測試點各停留10分鐘;

溫度轉(zhuǎn)換時間:5分鐘;

循環(huán)時間:30分鐘;

循環(huán)數(shù):100循環(huán)。


5. 測試結(jié)果

測試后,產(chǎn)品功能及外觀檢測正常。


SD卡溫度循環(huán)試驗測試


以上就是關(guān)于SD卡溫度循環(huán)試驗測試哪里可以做的介紹,如果您有航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件產(chǎn)品需要做溫度循環(huán)試驗測試,歡迎聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測工程師!


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