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AEC-Q101檢測(cè)的定義

AEC-Q101認(rèn)證為汽車(chē)級(jí)半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試，主要對(duì)汽車(chē)分立器件，元器件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求，如：車(chē)用光電耦合器：用于車(chē)用隔離件、接口轉(zhuǎn)換器，光電耦合器（TLX9304、TLX9378、TLX9376），觸摸屏控制盤(pán)，整卷分立器件等。

AEC-Q101測(cè)試項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

前后光電測(cè)量

測(cè)試要求：光通量/亮度、電流、電壓、x、y、波長(zhǎng)

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：技術(shù)規(guī)范書(shū)

樣品數(shù)量：210pcs

外觀檢查

測(cè)試要求：檢驗(yàn)器件結(jié)構(gòu)、標(biāo)識(shí)、工藝，以體式顯微鏡觀察（非3D）

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22B-101

樣品數(shù)量：1080pcs

Pre-condition(預(yù)處理)

測(cè)試要求：Bake @125 ，無(wú)偏置

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22A-113

樣品數(shù)量：693pcs

HTFP（高溫偏置）

測(cè)試要求：1000小時(shí),最高正向額定電壓.在HTFB前后都要進(jìn)行參數(shù)測(cè)試

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22A-108

樣品數(shù)量：240pcs

TCT（溫度循環(huán)）

樣品數(shù)量：240pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22A-104 附錄6

測(cè)試要求：1000次(-55°C 至最高額定溫度,不超過(guò)150°C),如果Ta(最大)=最高額定溫度+25°C 時(shí)(或當(dāng)最高額定溫度>150°C 時(shí),使用175°C),循環(huán)次數(shù)可以減少至400次.TC前后都要測(cè)試參數(shù)

HTHHB（高溫高濕偏置）

測(cè)試數(shù)量：240pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22A-101

測(cè)試要求：1000小時(shí)TA=85°C/85%RH,正向偏壓,HTHHB 前后測(cè)參數(shù)

PTC（功率和溫度循環(huán)）

測(cè)試數(shù)量：240pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL STD-750 方法1037

測(cè)試要求：測(cè)試持續(xù)時(shí)間如表2,TA=25°C,器件通電以確保Δ TJ≥100°C(不要超過(guò)絕對(duì)最大額值).IOL 前后測(cè)試參數(shù)

DPA（破壞性物理分析）

測(cè)試數(shù)量：2pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：AECQ101-004 章節(jié)4

測(cè)試要求：隨機(jī)所取的樣品已成功通過(guò)H3TRB、HAST &TC

HBM（人體模型）

測(cè)試數(shù)量：30pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：AECQ101-001、AECQ101-005

測(cè)試要求：如果封裝不能保持足夠的電荷來(lái)進(jìn)行此實(shí)驗(yàn),供應(yīng)商必須文件說(shuō)明.ESD前后要測(cè)試參數(shù)

CDM（充放電模型）

測(cè)試數(shù)量：30pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：AECQ101-001

測(cè)試要求：如果封裝不能保持足夠的電荷來(lái)進(jìn)行此實(shí)驗(yàn),供應(yīng)商必須文件說(shuō)明.ESD前后要測(cè)試參數(shù)

RSH（耐焊接熱）

測(cè)試數(shù)量：30pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22A-111(SMD)  B-106(PTH)

測(cè)試要求：根據(jù)MSL 等級(jí),SMD 器件在測(cè)試中應(yīng)全部浸沒(méi)并預(yù)處理.RSH前后要測(cè)試參數(shù)

solderablity（可焊性）

測(cè)試數(shù)量：30pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：J-STD-002 JESD22B 102

測(cè)試要求：solderablity（可焊性）放大50X,參考表2 中的焊接條件.對(duì)直插件,采用A 測(cè)試方法.對(duì)SMD 元件,采用測(cè)試方法B 和Ｄ

Thermal resistance(熱阻）

測(cè)試數(shù)量：10pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD24-3,24-4,24-6

Parametric Verification

測(cè)試數(shù)量：75pcs

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：客戶(hù)指定

測(cè)試要求：按客戶(hù)指定標(biāo)準(zhǔn)要求。

銅基偏置/老化

以上就是關(guān)于汽車(chē)車(chē)燈AEC-Q101檢測(cè)的相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)您有所幫助，優(yōu)科實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供車(chē)規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)，歡迎您來(lái)電咨詢(xún)！