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文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2024-12-09 瀏覽數(shù)量:
在電子產(chǎn)品制造過(guò)程中,元器件力學(xué)篩選是確保產(chǎn)品可靠性和性能穩(wěn)定的重要環(huán)節(jié)。作為一家專業(yè)的電子元器件篩選機(jī)構(gòu),我們致力于提供高標(biāo)準(zhǔn)的元器件二次篩選服務(wù),為客戶的產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航。
元器件力學(xué)篩選是通過(guò)施加振動(dòng)、沖擊、離心加速度等機(jī)械應(yīng)力,剔除存在制造缺陷的早期失效元器件的非破壞性檢測(cè)過(guò)程。其目的是確保元器件在惡劣環(huán)境中能夠持續(xù)穩(wěn)定工作。
重要性:
- 提高批次產(chǎn)品的一致性與可靠性
- 剔除潛在失效品,避免產(chǎn)品在實(shí)際使用中的功能異常
- 符合軍用、工業(yè)級(jí)等高標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的質(zhì)量要求
1. 正弦掃頻測(cè)試:
通過(guò)特定頻率范圍的振動(dòng)掃描,剔除機(jī)械結(jié)構(gòu)松動(dòng)和共振點(diǎn)異常的元器件。
2. 隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試:
模擬實(shí)際使用環(huán)境中復(fù)雜的振動(dòng)情況,檢測(cè)潛在的短路、斷路故障。
典型振動(dòng)條件:頻率20-2000Hz,加速度2-20g,掃描1~2周期,在共振點(diǎn)附近要多停留一段時(shí)間。
3. 沖擊測(cè)試:
采用高加速度短時(shí)沖擊,發(fā)現(xiàn)機(jī)械結(jié)構(gòu)不牢固或內(nèi)部連接不可靠的元器件。
典型的沖擊篩選條件是1500-3000g,沖擊3~5次,這項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于元器件。
4. 離心加速度測(cè)試:
在高加速旋轉(zhuǎn)環(huán)境下篩選內(nèi)引線匹配不良、鍵合強(qiáng)度低的器件,典型條件為 20000g,持續(xù)1分鐘。
1. 專業(yè)設(shè)備與資質(zhì)認(rèn)證
我們的實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的振動(dòng)臺(tái)、沖擊試驗(yàn)臺(tái)和離心加速度測(cè)試系統(tǒng),具備 CNAS認(rèn)證,服務(wù)能力覆蓋從電子元件到半導(dǎo)體模塊的全系列元器件。
2. 豐富的篩選檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)
- 電子元件: 電阻、電容、電感、繼電器等
- 半導(dǎo)體分立器件: 三極管、MOS管、IGBT等
- 半導(dǎo)體集成電路: CPU、FPGA、存儲(chǔ)器等
- 功能模塊: 電源模塊、通訊模塊、控制模塊等
3. 定制化篩選解決方案
根據(jù)客戶需求和應(yīng)用場(chǎng)景,靈活調(diào)整測(cè)試方案,確保每個(gè)批次的元器件都符合最高標(biāo)準(zhǔn)。
4. 技術(shù)支持與測(cè)試報(bào)告
提供 詳細(xì)的檢測(cè)報(bào)告和失效分析,助力客戶精準(zhǔn)掌控產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)過(guò)程。
獲取報(bào)價(jià)
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