車規(guī)級芯片AEC-Q100測試認證機構-廣東優(yōu)科檢測認證有限公司

400-859-9559 簡 EN

資訊中心

您當前所在位置：首頁 > 資訊中心 > 檢測認證知識

資訊中心

分類

熱門服務

電子元器件二次篩選

UL認證

CSA認證

AEC-Q認證是國際汽車電子領域的準入門檻

AEC即Automotive Electronics Council，是美國汽車電子委員會的簡稱。AEC由克萊斯勒，福特和通用汽車發(fā)起并創(chuàng)立于1994年，目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子和半導體廠商，符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時采用，促進了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動了汽車零件通用性的實施，為汽車零部件市場的快速成長打下基礎。AEC-Q為AEC組織所制訂的車用可靠性測試標準，是零件廠商進入汽車電子領域，打入一級車廠供應鏈的重要門票。

AEC-Q100是AEC的第一個標準，主要是針對車載應用的集成電路產(chǎn)品所設計出的一套應力測試標準，此規(guī)范對于提升產(chǎn)品信賴性品質保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對每一個芯片進行嚴格的質量與可靠度確認，特別對產(chǎn)品功能與性能進行標準規(guī)范測試。

芯片-1.png

要求通過AEC-Q100標準的車用集成電路IC

車用一次性內(nèi)存、電源降壓穩(wěn)壓器、車用光電耦合器、三軸加速規(guī)傳感器、視訊譯碼器、整流器、環(huán)境光傳感器、非易失性鐵電存儲器、電源管理IC、嵌入式閃存、DC/ DC穩(wěn)壓器、車規(guī)網(wǎng)絡通訊設備、液晶驅動IC、單電源差動放大器、電容接近式開關、高亮度LED驅動器、異步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS高級駕駛員輔助系統(tǒng)芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器。

車規(guī)級芯片AEC-Q100認證測試項目

優(yōu)科能力范圍及 AEC-Q100 技術要求
序號	測試項目	縮寫	檢測方法
A組加速環(huán)境應力測試
A1	預處理	PC	J-STD-020 JESD22-A113
A2	有偏溫濕度或有偏高加速應力測試	THB/HAST	JESD22-A101 JESD22-A110
A3	高壓或無偏高加速應力測試或無偏溫濕度測試	AC/ UHST /TH	JESD22-A102 JESD22-A118 JESD22-A101
A4	溫度循環(huán)	TC	JESD22-A104 和附錄3
A5	功率負載溫度循環(huán)	PTC	JESD22-A105
A6	高溫儲存壽命測試	HTSL	JESD22-A103
B 組加速壽命模擬測試
B1	高溫工作壽命	HTOL	JEDEC JESD22-A108
B2	早期壽命失效率	ELFR	AEC-Q100-008
B3	非易失性存儲器耐久	EDR	AEC-Q100-005
C 組封裝組合完整性測試
C1	綁線剪切	WBS	AEC-Q100-001
C2	綁線拉力	WBP	MIL-STD 883 Method2011
C3	可焊性	SD	JESD22-B102
C4	物理尺寸	PD	JESD22-B100 JESD22-B108
C5	錫球剪切	SBS	AEC-Q100-010
C6	引腳完整性	LI	JESD22-B105
D 組芯片晶元可靠度測試
D1	電遷移	EM	/
D2	經(jīng)時介質擊穿	TDDB	/
D3	熱載流子注入	HCI	/
D4	負偏壓溫度不穩(wěn)定性	NBTI	/
D5	應力遷移	SM	/
E 組電氣特性確認測試
E1	應力測試前后功能參數(shù)測試	TEST	規(guī)格書
E2	靜電放電(HBM)	HBM	AEC-Q100-002
E3	靜電放電 (CDM)	CDM	AEC-Q100-011
E4	閂鎖效應	LU	AEC-Q100-004
E5	電分配	ED	AEC-Q100-009
E6	故障等級	FG	AEC-Q100-007
E7	特性描述	CHAR	AEC-Q003
E9	電磁兼容	EMC	SAE 1752/3
E10	短路特性描述	SC	AEC-Q100-012
E11	軟誤差率	SER	JESD89-1 JESD89-2 JESD89-3
E12	無鉛 (Pb)	LF	AEC-Q005
F組缺陷篩選測試
F1	過程平均測試	PAT	AEC-Q001
F2	統(tǒng)計良率分析	SBA	AEC-Q002
G 組腔體封裝完整性測試
G1	機械沖擊	MS	JESD22-B104
G2	變頻振動	VFV	JESD22-B103
G3	恒加速	CA	MIL-STD-883 Method2001
G4	粗細氣漏測試	GFL	MIL-STD-883 Method1014
G5	包裝跌落	DROP	/
G6	蓋板扭力測試	LT	MIL-STD-883 Method2024
G7	芯片剪切	DS	MIL-STD-883 Method2019
G8	內(nèi)部水汽含量測試	IWV	MIL-STD-883 Method1018

公司外景.jpg

車規(guī)級芯片AEC-Q100測試認證機構

優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q100認證機構，實驗室具備AEC-Q100標準CNAS全項檢測資質和CNCA發(fā)證能力，可提供IC集成電路AEC-Q100認證服務。我們有眾多集成電路測試專家和豐富的實驗設備，致力于幫助您的產(chǎn)品滿足AEC-Q100標準要求。我們提供具有差異性的高附加值服務，并以最短的項目交付時間滿足您與IC產(chǎn)品相關的各種測試、檢驗、認證和保障需求。

微信咨詢檢測認證業(yè)務