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元器件二次篩選試驗(yàn)中的可靠性保障工作

文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2024-08-12 瀏覽數(shù)量:

隨著現(xiàn)代航天事業(yè)的蓬勃發(fā)展,電子元器件的可靠性成為確保航天系統(tǒng)安全和穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵因素。電子元器件二次篩選試驗(yàn)是元器件裝機(jī)前的重要保障過(guò)程。然而,操作不當(dāng)或防護(hù)措施不足可能會(huì)為元器件的實(shí)際應(yīng)用埋下隱患,甚至直接導(dǎo)致失效。因此,在二次篩選過(guò)程中,從環(huán)境控制、操作規(guī)范、靜電防護(hù)以及DPA(破壞性物理分析)與FA(失效分析)等多個(gè)方面,做好可靠性保障工作至關(guān)重要。


電子元器件篩選公司.jpg


環(huán)境控制

溫濕度控制:電子元器件對(duì)環(huán)境的溫濕度有著嚴(yán)格要求,尤其是溫度傳感器、熱敏電阻等對(duì)溫度較為敏感的器件。元器件應(yīng)盡量貯存在常溫環(huán)境下,避免長(zhǎng)期處于高溫狀態(tài)或在導(dǎo)熱性能差的容器中運(yùn)行,以防止因溫度劇變或熱應(yīng)力疲勞導(dǎo)致失效。此外,貯存濕度過(guò)高會(huì)加速管腳腐蝕或電性能惡化,縮短元器件的有效貯存期。因此,根據(jù)QJ2227-92標(biāo)準(zhǔn),應(yīng)嚴(yán)格控制元器件的貯存濕度,確保其在適宜的環(huán)境中存放。

機(jī)械應(yīng)力控制:元器件在操作過(guò)程中應(yīng)輕取輕放,避免因外力造成外形變形或機(jī)械應(yīng)力疲勞。在插入或拔出測(cè)試夾具時(shí),應(yīng)避免用力過(guò)大,以防止因機(jī)械損傷導(dǎo)致元器件失效。

輻射控制:對(duì)于光電器件等對(duì)輻射敏感的元器件,應(yīng)盡量遠(yuǎn)離輻射源,防止因輻射損傷影響元器件性能。


靜電防護(hù)

靜電來(lái)源及防護(hù):靜電廣泛存在于日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中,尤其是由于摩擦、感應(yīng)生電或機(jī)械運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的靜電。靜電放電(ESD)可通過(guò)多種模型(如人體模型、機(jī)械模型、放電模型)對(duì)元器件造成損害,特別是在納米器件和半導(dǎo)體材料中,其影響尤為突出。根據(jù)GB1649-93標(biāo)準(zhǔn),元器件按靜電敏感度分為三個(gè)級(jí)別,針對(duì)不同級(jí)別的元器件,應(yīng)采取相應(yīng)的靜電防護(hù)措施,防止因靜電損傷導(dǎo)致的失效模式,如開(kāi)路、短路或特性曲線惡化等。

靜電損傷及預(yù)防:靜電放電可能直接擊穿元器件或?qū)ζ鋬?nèi)部結(jié)構(gòu)造成損傷。為避免靜電損傷,在二次篩選實(shí)驗(yàn)室中,除了遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行防護(hù)外,還應(yīng)從靜電來(lái)源、泄放條件等方面加強(qiáng)防護(hù)措施,確保元器件在檢測(cè)過(guò)程中不受靜電干擾。


DPA與FA在可靠性中的作用

失效分析(FA):FA是一種通過(guò)分析元器件失效原因,改進(jìn)設(shè)計(jì)、工藝和管理的方法。其核心作用包括:為改進(jìn)設(shè)計(jì)提供理論依據(jù)、預(yù)測(cè)可靠性模型、為篩選試驗(yàn)提供實(shí)際分析手段、決策是否整批淘汰,以及通過(guò)實(shí)施糾正措施提高元器件的成品率和可靠性。FA的有效實(shí)施可以顯著減少重大工程中的故障率,提高系統(tǒng)的整體可靠性。

破壞性物理分析(DPA):DPA作為FA的一種補(bǔ)充手段,通常在產(chǎn)品交付驗(yàn)收試驗(yàn)時(shí)由第三方進(jìn)行。DPA的主要作用是通過(guò)對(duì)合格品的分析,早期發(fā)現(xiàn)電子元器件的潛在缺陷,反饋給生產(chǎn)廠商以改進(jìn)生產(chǎn)工藝。DPA有助于識(shí)別異常批次產(chǎn)品,防止缺陷元器件流入實(shí)際應(yīng)用中,從而保障產(chǎn)品的可靠性。例如,通過(guò)DPA試驗(yàn),曾發(fā)現(xiàn)某批進(jìn)口集成電路存在裂紋,及時(shí)拒用后,避免了潛在的可靠性問(wèn)題。


人為因素造成的失效預(yù)防

在二次篩選過(guò)程中,人為操作失誤也可能導(dǎo)致元器件失效。常見(jiàn)的失效原因包括程序設(shè)置不當(dāng)、極性接反、錯(cuò)誤信號(hào)輸入、電應(yīng)力過(guò)沖、適配器誤用、插拔不當(dāng)?shù)?。這些問(wèn)題的預(yù)防措施包括:

- 嚴(yán)格按照操作規(guī)程設(shè)置程序,避免因設(shè)置錯(cuò)誤導(dǎo)致元器件燒毀。

- 在裝配和測(cè)試過(guò)程中,確保元器件的極性正確,避免因極性接反導(dǎo)致失效。

- 控制電應(yīng)力,防止過(guò)沖對(duì)元器件造成的損害。

- 在使用適配器時(shí),確保適配器與元器件的兼容性,避免因不當(dāng)使用導(dǎo)致機(jī)械應(yīng)力失效。


總結(jié)

元器件的二次篩選試驗(yàn)是保障其可靠性的重要環(huán)節(jié)。通過(guò)嚴(yán)格的環(huán)境控制、靜電防護(hù)、DPA與FA分析,以及操作規(guī)范管理,可以有效防止因篩選不當(dāng)而導(dǎo)致的元器件失效,為航天等重大工程提供堅(jiān)實(shí)的質(zhì)量保障。在現(xiàn)代航天事業(yè)中,元器件的可靠性研究和保障工作已成為確保系統(tǒng)穩(wěn)定性和安全性的基石。


第三方電子元器件篩選機(jī)構(gòu)


第三方電子元器件篩選機(jī)構(gòu)

優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方電子元器件篩選機(jī)構(gòu),電子元器件篩選實(shí)驗(yàn)室面積約2400平米,已具備全套資質(zhì)和專業(yè)團(tuán)隊(duì)36人,配備元器件篩選設(shè)備180臺(tái)/套,可提供專業(yè)的電子元器件二次篩選、元器件失效分析(FA)及可靠性驗(yàn)證等服務(wù)。


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