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電子元器件機(jī)械沖擊試驗?zāi)睦锟梢宰觯?p>文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間:2021-06-04 瀏覽數(shù)量:

廣東優(yōu)科檢測是獲得CNAS和CMA資質(zhì)認(rèn)可的第三方檢測機(jī)構(gòu),實驗室具備GB/T2423.5、IEC60068-2-27標(biāo)準(zhǔn)檢測資質(zhì)和檢測能力,可提供電子元器件機(jī)械沖擊試驗服務(wù),并可出具國際認(rèn)可的第三方檢測報告。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗


什么是機(jī)械沖擊試驗?

機(jī)械沖擊試驗又名:mechanical shock,產(chǎn)品在使用、裝卸、運輸過程中都會受到?jīng)_擊。沖擊的量值變化很大并具有復(fù)雜的性質(zhì)。因此機(jī)械沖擊試驗適用于確定機(jī)械的薄弱環(huán)節(jié),考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗?zāi)康呐c原理

電子元器件的機(jī)械沖擊試驗主要是通過模擬元器件在運輸、搬運和使用過程中遇到的各種不同程度的機(jī)械沖擊來確定電子元器件受到機(jī)械沖擊時的適應(yīng)性或評定其結(jié)構(gòu)的牢靠性。


基本原理為當(dāng)短時間內(nèi)極大的沖擊力(極大的沖量)作用在試驗樣品上,從而引起試驗樣品產(chǎn)生極大的瞬態(tài)振動(位移),在試驗樣品內(nèi)產(chǎn)生極大的應(yīng)力和應(yīng)變,抗沖擊能力弱的試驗樣品就會因沖擊而損壞或性能降低。

沖擊試驗是瞬間性的,破壞性的。理論上跌落試驗也算是沖擊的一種,一般沖擊試驗機(jī)是將物品固定在平臺上,然后將平臺上升,利用重力加速度沖擊,沖擊波形有半正弦波、梯形波、三角波。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗


電子元器件機(jī)械沖擊試驗技術(shù)指標(biāo)

機(jī)械沖擊試驗的技術(shù)指標(biāo)包括:峰值加速度、脈沖持續(xù)時間、速度變化量(半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波)和波形選擇。沖擊次數(shù)無特別要求外每個面沖擊3次共18次。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗參考標(biāo)準(zhǔn)

GJB 360A-96標(biāo)準(zhǔn)中的方法213機(jī)械沖擊試驗條件,GB/T2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ea:沖擊試驗方法》及《IEC60068-2-27,試驗Ea:沖擊》和《MIF-STD202F》規(guī)范對沖擊試驗的要求。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗試驗設(shè)備

機(jī)械式?jīng)_擊測試臺主要用于小中型產(chǎn)品作沖擊試驗,考核試品承受沖擊破壞的能力。常應(yīng)用于電子元器件,電子線路板等環(huán)境試驗。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗暴露的缺陷

機(jī)械沖擊試驗中可能暴露的電子元器件缺陷有結(jié)構(gòu)缺陷、封裝異物、芯片粘片、芯片裂紋、引線鍵合和外引線缺陷。


電子元器件機(jī)械沖擊試驗機(jī)構(gòu)


電子元器件機(jī)械沖擊試驗辦理流程

1. 先聯(lián)系廣東優(yōu)科檢測業(yè)務(wù)人員;

2. 確認(rèn)產(chǎn)品機(jī)械沖擊試驗條件和標(biāo)準(zhǔn);

3. 確認(rèn)可以測試后,客戶需要填寫申請表,簽訂報價合同;

4. 客戶郵寄樣品,付款;

5. 實驗室收到樣品進(jìn)行測試;

6. 測試完成,出具正式報告。


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