哪里能做元器件篩選？?jī)?yōu)科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方元器件篩選機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備電子元器件篩選CNAS測(cè)試資質(zhì)和測(cè)試能力，可提供電阻、電容、敏感器件、濾波器、電連接器、分立器件等電子元器件二次篩選、失效分析、環(huán)境可靠性測(cè)試服務(wù)。

什么是電子元器件的測(cè)試篩選服務(wù)

電子元器件的測(cè)試篩選服務(wù)也稱(chēng)之為電子元器件的二次篩選。電子元器件的二次篩選是指在元器件廠(chǎng)家篩選的基礎(chǔ)上，由使用方或其委托的第三方對(duì)電子元器件進(jìn)行的篩選。二次篩選是在電子元器件各種失效模式的基礎(chǔ)上，進(jìn)行的一系列有針對(duì)性的試驗(yàn)，從而達(dá)到有效剔除早期失效的目的。介于目前我國(guó)電子元器件設(shè)計(jì)、制造和工藝等方面的現(xiàn)狀，以及進(jìn)口元器件采購(gòu)中的諸多不可控因素，電子元器件二次篩選已成為激發(fā)電子元器件潛在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)缺陷，有效剔除早期失效產(chǎn)品，提高整機(jī)系統(tǒng)的可靠性等方面必不可少的一環(huán)。

我司可開(kāi)展以下標(biāo)準(zhǔn)元器件二次篩選服務(wù)

GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

GJB 548B-2005 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

GJB 33A-1997 《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》

GJB 5018-2001 《半導(dǎo)體光電子器件篩選與驗(yàn)收通用要求》

GJB 597B-2012 《半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范》

GJB 244A-2001 《有質(zhì)量等級(jí)的薄膜固定電阻器總規(guī)范》

GJB 2828-1997 《功率型線(xiàn)繞固定電阻器總規(guī)范》

GJB 3015-1997 《有可靠性指標(biāo)的非線(xiàn)繞預(yù)調(diào)電位器總規(guī)范》

GJB 920A-2002 《膜固定電阻網(wǎng)絡(luò),膜固定電阻和陶瓷電容器的阻容網(wǎng)絡(luò)通用規(guī)范》

GJB 1432B-2009 《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》

GJB 4157A-2011 《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》

GJB 191B-2009 《含宇航級(jí)云母固定電容器通用規(guī)范》

GJB 63C-2015 《有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范》

GJB 2283A-2014 《片式固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)》

GJB 733B-2015 《有可靠性指標(biāo)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器總規(guī)范》

GJB 603A-2011 《有失效率等級(jí)的鋁電解電容器通用規(guī)范》

GJB 1433-1992 《瓷介微調(diào)可變電容器總規(guī)范》

GJB 1214A-2009 《含宇航級(jí)金屬化塑料膜介質(zhì)密封固定電容器通用規(guī)范》

GJB 601B-2018 《熱敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 1782A-2015 《壓敏電阻器通用規(guī)范》

GJB 264A-2011 《機(jī)械濾波器通用規(guī)范》

GJB 1511A-2012 《壓電陶瓷濾波器總規(guī)范》

GJB 2600A-2009 《聲表面波器件通用規(guī)范》

GJB 1518A-2015 《射頻干擾濾波器總規(guī)范》

GJB 1508-199 《石英晶體濾波器總規(guī)范》

GJB 5850-2006 《小型熔斷器通用規(guī)范》

GJB 734A-2002 《旋轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān)通用規(guī)范》

GJB1512A-2011 《按鈕開(kāi)關(guān)通用規(guī)范》

GJB 809B-2013 《微動(dòng)開(kāi)關(guān)通用規(guī)范》

GJB 1217A-2009 《電連接器試驗(yàn)方電電連接器試驗(yàn)方法連接》

GJB 2446A-2011 《外殼定位微矩形電連接器通用規(guī)范》

GJB 1438A-2006 《印制電路連接器及其附件通用規(guī)范》

GJB 681A-2002 《射頻同軸連接器通用規(guī)范》

GJB 599B-2012 《耐環(huán)境快速分離高密度小圓形電連接器總規(guī)范》

GJB 65B-1999 《有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

GJB 1517A-2011 《恒溫繼電器通用規(guī)范》

GJB 1513A-2009 《混合和固體延時(shí)繼電器通用規(guī)范》

GJB 1461A-2017 《含可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2449-1995 《塑封通用電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2888A-2011 《有失效率等級(jí)的功率型電磁繼電器通用規(guī)范》

GJB 1042A-2002 《電磁繼電器總規(guī)范》

GJB 2829A-2013 《音頻、電源和大功率脈沖變壓器和電感器通用規(guī)范》

GJB 1864A-2011 《射頻固定和可變片式電感器通用規(guī)范》

GJB 5025-2003 《射頻固定和可變電感器通用規(guī)范》

GJB 2138A-2015 《石英晶體元件總規(guī)范》

GB/T17940-2000 第Ⅱ篇 《半導(dǎo)體器件 集成電路第 3 部分：模擬集成電路》

GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路》

SJ20646-1997 《混合集成電路 DC/DC 變換器測(cè)試方法》

GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體器件集成電路第 2 部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇》

GB/T14028-2018 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測(cè)試方法的基本原理》

GB/T14030-92 《半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理》

GB/T4587-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 7 部分：雙極型晶體管》

GB/T4586-1994 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件 第 8 部分 場(chǎng)效應(yīng)晶體管》

GB/T4023-2015 《半導(dǎo)體分立器件第 2 部分：整流二極管》

GB/T6571-1995 第Ⅳ章 《半導(dǎo)體器件分立器件第 3 部分：信號(hào)（包括開(kāi)關(guān)）和調(diào)整二極管》

SJ/T2215-2015 《半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法》

GJB 675A-2002 《有和無(wú)可靠性指標(biāo)的模制射頻固定電感器通用規(guī)范》

SJ/T 10805-2018 《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法》

GJB1515B-2017 《固體繼電器總規(guī)范》

等

我們的優(yōu)勢(shì)

1. 專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)

可靠性檢測(cè)專(zhuān)家、定制化服務(wù)、專(zhuān)業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)，擁有多名航空、航天電子元器件質(zhì)量可靠性專(zhuān)組成的專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)50余人。

2. 專(zhuān)業(yè)設(shè)備

配備各種規(guī)格的集成電路測(cè)試系統(tǒng)，老煉箱50余臺(tái)、各類(lèi)環(huán)境箱體20臺(tái)套、機(jī)械性能與可靠性檢測(cè)設(shè)備30臺(tái)套、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)、模擬器件測(cè)試系統(tǒng)、檢漏系統(tǒng)、PIND顆粒碰撞檢測(cè)設(shè)備等。

3. 一站式方案服務(wù)

依據(jù)客戶(hù)產(chǎn)品規(guī)格，準(zhǔn)確制定元器件的篩選方案和規(guī)程\依據(jù)篩選結(jié)果，準(zhǔn)確定位元器件失效機(jī)理，并依據(jù)客戶(hù)需求給出元器件失效分析方案。

4. 權(quán)威保障

軍用級(jí)檢測(cè)體系控制+軍方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可檢測(cè)設(shè)備，保證測(cè)試流程和測(cè)試精度，第三方公正檢測(cè)機(jī)構(gòu)。