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AEC-Q認(rèn)證振動(dòng)沖擊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及條件

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間:2023-06-06 瀏覽數(shù)量:

AEC-Q認(rèn)證振動(dòng)沖擊測(cè)試的目的

AEC-Q認(rèn)證振動(dòng)沖擊測(cè)試在于評(píng)估汽車電子元件在面對(duì)振動(dòng)和沖擊時(shí)的可靠性和耐久性。這些產(chǎn)品通常會(huì)在車輛的復(fù)雜工況下工作,例如在崎嶇的道路上行駛、在高速公路上行駛時(shí)的顛簸以及急剎車等情況下。因此,這些產(chǎn)品必須能夠承受來自車輛振動(dòng)和沖擊的影響,保持正常的功能和性能。


振動(dòng)試驗(yàn)第三方檢測(cè).jpg


AEC-Q認(rèn)證振動(dòng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試條件

接受條件:0失效

測(cè)試方法:JEDEC JESD22-B103

標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試對(duì)象

測(cè)試數(shù)量

測(cè)試條件

AEC-Q100

集成電路

15

20Hz~2000Hz~20Hz(對(duì)數(shù)掃頻)>4min,每軸向4次;峰值加速度50g;測(cè)試前后的性能檢查在常溫下

AEC-Q101

離散半導(dǎo)體

僅針對(duì)密封件

20Hz~100Hz   峰峰值位移:0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g;

AEC-Q102

離散光電半導(dǎo)體器件

3批次中各取10個(gè)

20Hz~100Hz 峰峰值位移:0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g;

AEC-Q103-002

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件

3批次中各取39個(gè)

M1等級(jí):20Hz~2000Hz~20Hz(對(duì)數(shù)掃頻)>4min,每軸向4次;峰值加速度50g
M2等級(jí):10Hz~2000Hz~10Hz(對(duì)數(shù)掃頻)>4min,每軸向4次;峰值加速度50g
備選方案:由任務(wù)文件制定

AEC-Q103-003

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件

3批次中各取12個(gè)

20Hz~2000Hz~20Hz(對(duì)數(shù)掃頻)<12min,每軸向4次;峰值加速度20g;測(cè)試前后的性能檢查在常溫下

AEC-Q104

多芯片模塊(MCM)

15

20Hz~2000Hz~20Hz(對(duì)數(shù)掃頻)>4min,每軸向4次;峰值加速度50g;測(cè)試前后的性能檢查在常溫下


AEC-Q認(rèn)證沖擊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試條件

接受條件:0失效

測(cè)試方法:JEDEC JESD22-B110

標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試對(duì)象

測(cè)試數(shù)量

測(cè)試條件

AEC-Q100

集成電路

15

僅Y1平面,5次沖擊,脈沖持續(xù)時(shí)間0.5ms,峰值加速度1500g。MS前后的測(cè)試在室溫下進(jìn)行。

AEC-Q101

離散半導(dǎo)體

僅針對(duì)密封件

1500g,0.5ms,5次/方向,±XYZ共30次,前后都要測(cè)試電氣參數(shù)

AEC-Q102

離散光電半導(dǎo)體器件

3批次中各取10個(gè)

1500g,0.5ms,5擊,3次/方向。

在MS前和MS后的測(cè)試,或僅在CA前和MS后進(jìn)行測(cè)試。

AEC-Q103-002

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件

3批次中各取39個(gè)

M1級(jí):

?測(cè)試條件:每軸雙向5個(gè)脈沖,0.3ms持續(xù)時(shí)間,6000g峰值加速度等級(jí)M2:

?測(cè)試前:下列每次測(cè)試#G3的恒定加速度(CA)

?測(cè)試條件:每軸雙向10個(gè)脈沖,0.3ms持續(xù)時(shí)間,6000g峰值加速度

替代測(cè)試條件:依照任務(wù)剖面(安裝位置定義的機(jī)械條件)

室溫下MS前后測(cè)試。

后測(cè)試:IV(PS11)和WBP(C2)進(jìn)行5個(gè)裝置的測(cè)試。

AEC-Q103-003

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件

3批次中各取12個(gè)

3個(gè)脈沖,0.5毫秒持續(xù)時(shí)間,在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進(jìn)行震動(dòng)前后測(cè)試。

AEC-Q104

多芯片模塊(MCM)

15

僅Y1平面,5次沖擊,脈沖持續(xù)時(shí)間0.5ms,峰值加速度1500g。MS前后的測(cè)試在室溫下進(jìn)行。


公司外景.jpg


AEC-Q認(rèn)證機(jī)構(gòu)

優(yōu)科是專業(yè)第三方AEC-Q認(rèn)證機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)及CNCA發(fā)證資質(zhì),可提供車規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件等汽車電子元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)。我們可依據(jù)產(chǎn)品使用條件和質(zhì)量指標(biāo),定義符合汽車電子質(zhì)量要求的測(cè)試計(jì)劃,助力客戶快速進(jìn)入汽車電子市場(chǎng)。


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