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電子元器件可靠性測試項目及標準

文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2022-08-18 瀏覽數(shù)量：

電子元器件可靠性測試項目及標準


電子元器件可靠性測試是為了評估電子元器件在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進行的活動。電子元器件可靠性測試項目分為三類：電氣性能測試、零部件環(huán)境可靠性、零部件機械類可靠性。


電子元器件可靠性測試項目及標準

1、電氣性能測試

擊穿電壓、介電強度

參考標準：ASTM D149-09(2013)、GB/T 1408.1-2006、IEC 60243-1-2013、ASTM D1000-10、GB/T 4677-2002


介電常數(shù)、介質(zhì)損耗

參考標準：GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150-11


體積電阻率、 表面電阻率

參考標準：GB/T 3048.3-2007、GB/T 1410-2006、GB/T 15662-1995、ASTM D257-14


耐電壓

參考標準：EIA-364-20C


接觸電阻

參考標準：EIA-364-06C


絕緣電阻

參考標準：EIA-364-21C


溫升

參考標準：EIA-364-70B


2、零部件環(huán)境可靠性

鹽霧試驗 | 防塵防水試驗/IP等級 | 高溫試驗 | UV紫外光老化試驗 | 冷熱沖擊試驗 | 快速溫度變化試驗 | 交變濕熱試驗 | 恒溫恒濕試驗 | 氣體腐蝕試驗 | 低氣壓試驗 | 臭氧測試 | 高壓蒸煮（HAST） | 氙燈老化/太陽輻射


3、零部件機械類可靠性

跌落試驗 | 振動試驗 | 沖擊和撞擊試驗 | 插拔力測試 | 加速壽命試驗 HALT/HASS試驗 | 碰撞試驗 | 三綜合試驗


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